• Tylko online
Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007 [E-Book] [pdf]
  • Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007 [E-Book] [pdf]

Gwarancja bezpiecznych zakupów z

 

Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007 [E-Book] [pdf]

6,44 zł
Brutto

W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry i profilometry. Rozwój technologiczny wymusza w metrologii konieczność pomiaru chropowatości o wysokościach mieszczących się w skali nano. Coraz częściej potrzebne jest uzyskanie nie t...

Gwarancja bezpiecznych zakupów z

W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry i profilometry. Rozwój technologiczny wymusza w metrologii konieczność pomiaru chropowatości o wysokościach mieszczących się w skali nano. Coraz częściej potrzebne jest uzyskanie nie tylko parametrów 2D, ale także obrazu powierzchni.

  • Autor / Autorzy: Praca zbiorowa
  • Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
  • Rok wydania: 2007
  • Liczba stron: 188
  • Format: pdf
  • Publikacja jest zabezpieczona przed nieuprawnioną dystrybucją. Rodzaj zabezpieczenia: Watermark
  • Przed zakupem przeczytaj zasady licencji, która zostanie udzielona kupującemu niniejszą publikację elektroniczną.
1
188
2007
Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Komentarze (0)
Na razie nie dodano żadnej recenzji.

Inne produkty w tej kategorii